供應(yīng)上海鍍層表面污點(diǎn)成分分析測(cè)試小呂   手機(jī)：15021194623   QQ：

鍍層表面污點(diǎn)成分分析

金屬鍍層與涂層共性檢測(cè)包括外觀、厚度、硬度、殘余應(yīng)力、界面結(jié)合力、孔隙度測(cè)量和顯微組織觀察等，特性分析包括耐磨、耐蝕、耐高溫、抗氧化、導(dǎo)電性檢測(cè)等。

本公司成分分析主要設(shè)備為：

掃描電子顯微鏡能譜測(cè)試儀（SEM-EDS）

透射電鏡(TEM)

凝膠色譜儀（GPC）

X射線(xiàn)熒光檢測(cè)(XRF)

直讀光譜檢測(cè)

原子發(fā)射光譜(ICP-OES)檢測(cè)

原子吸收光譜(AAS)

氣相色譜－質(zhì)譜聯(lián)用(GC-MS)

高效液相色譜儀(HPLC)

紅外光譜分析(FT-IR)

熱紅聯(lián)用儀（TG-IR）

紫外-可見(jiàn)光分光光度儀(UV-Vis)

原子熒光儀(AFS)

離子色譜儀(IC)

碳硫分析儀

氮氧分析儀

核磁共振分析

差熱分析儀

熱機(jī)械分析